LCT Solution (Low Cost Tester Solution)

TDMS-100 (TSE DC Measure System)

TDMS-1000은 반도체 package, wafer, PCB board 등의 제조 및 조립특성 검사에 특화된 tester로서 open, short, leakage, RLC, Daisy-chain 등을 측정 할 수 있다. TDMS-1000은 GUI를 이용하여 쉽게 programming 할 수 있으며 효율적인 양산관리를 위하여 분석 프로그램인 TDAT(TSE DC Analysis Tool)를 제공한다.

Feature

  • 256~3072 channel configuration
  • Other channel state setting
  • LC measurement with option slot
  • GUI based programming
  • Analysis tool (STDF support)
  • Ball map, wafer map display
  • Customized special function support

Specifications

Total channels 256 ~ 3072CHs
No of PMU 4CHs(up to 16)
function VSIM, ISVM FMV, RES
Accuracy ±1%
DC ±5V, 40mA
Current range ±5uA ~ 40mA
Test time 1ms / CH
Pin setting VT1, VT2, GND, OPEN, PMU

TDMS- 2000 (TSE DC Measure System)

TDMS-2000은 TDMS-1000의 후속 모델로서 Multi PMU, 증가 된 test channel을 제공한다. 다양한 User Power 가 제공 됨 으로서 Component 또는 relay등을 Operation 할 수 있으며 하나의 system에 두 대의 handler를 적용할 수 있어 높은 양산 효율성을 제공할 수 있다.

Feature

  • 256~4096 Channel Configuration
  • 64PMU Channels
  • User DC Power Supplier (1.8V/3.3V/5V/12V/±15V)
  • Low Resistor Measure (4 wire Kelvin Measure)
  • Dual Handler Docking
  • Multi Option Slot

Specifications

Total channels 256~4096channels
No of PMU 64CHs
function VSIM, ISVM, FMV, RES
Accuracy ±0.5%
DC ±10V, 80mA
Current range ±5uA ~ 80mA
Test time 0.3ms/CH
Pin setting VT1, VT2, GND, OPEN, PMU
Function GPIO, Relay control

TDAS-3072 (TSE DC Analysis System)

반도체의 DC 분석을 위해 최적화 된 장비인 TDAS-3072는 KELVIN structure로 제작하여 high accuracy를 구현 하였다. Open, Short, Leakage등을 test할 수 있으며 I/V curve 기능을 통한 DC 특성 분석이 가능하다. Excel파일을 이용하여 쉽게 programming 할 수 있으며 직관적인 GUI를 적용하여 쉽게 운용 할 수 있다.

Feature

  • 3072 Channel
  • O/S, Leakage Test Mode
  • Kelvin test structure
  • I/V curve test mode
  • User friendly GUI
  • Easy test PGM setup with Excel
  • Ball map display (Pass/Fail)
  • ±10V (1A) Output
  • VCC Supplier

Specifications

Total channels 3072CHs
No of PMU 1CH
No of VCC 1CH
Voltage ±10V (Resolution 1mV)
Accuracy ±0.5%
Range ±5uA ~ 1A
Resolution 1mA

UAP- 100 (Universal Auto Probe Station)

Fine Pitch Package 또는 Micro Bump를 자동으로 probing하여 I-V curve 특성을 분석하는 장비로서 package ball 또는 Bump에 생길 수 있는 scratch를 방지하고 정밀한 probing을 구현하여 DC 특성 분석에 편의성을 제공한다.

Feature

  • Full Auto Probe Solution
  • 2Point Prober
  • Auto 3axis Moving (X, Y, Z)
  • Precise probing
  • I-V Curve Kelvin Measure
  • User Format Report
  • Ball Map Display
  • Auto Force Detect

Specifications

Size 1600(L)X1080(W)X1610(H)
Weight 400Kg
Input Power AC1-Phase 220V/60Hz/3KW
Auto Probing Minimum 25um
Package size 5x5mm ~ 60X60mm
Measure I-V curve
Range ±5uA ~ 1A
Resolution 1mA

TT-E400e

eMMC 제품을 target으로 한 tester로서 Multi channel, Multi para 구조로 개발 되었다. MCP제품의 concurrent test가 가능하며, NAND flash등도 test 가능하다. 저가형으로 개발되어 고객의 부담을 낮추었으며 확장성이 뛰어나다.

Feature

  • Easy programming
  • Source sync
  • Match function
  • Quick setup & operation
  • Low Price
  • Shmoo tool

Specifications

Channels 416 ~ 6656 CHs
PPS 48 ~ 768EA (1~5V, 1A)
Parallelism 16 ~ 256 DUTs
Dara rate 400Mbps (eMMC V.5.0)
DC ±8V, ±40mA
Options GPIO, CPS, CW, PBID, PBTYPE
ALPG Full address operation Data TP

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