LCT Solution (Low Cost Tester Solution)

TDMS-100 (TSE DC Measure System)

TDMS-1000は半導体Package、Wafer、PCB boardなどの製造及び組立特性の検査に特化されたTesterとしてOpen、Short、Leakage、RLC、Daisy-chainなどを測定できる。TDMS-1000は、GUIを利用して簡単にProgrammingできるし、効率的な量産管理に向けて分析プログラムのTDAT(TSE DC Analysis Tool)を提供する。

Feature

  • 256~3072 channel configuration
  • Other channel state setting
  • LC measurement with option slot
  • GUI based programming
  • Analysis tool (STDF support)
  • Ball map, wafer map display
  • Customized special function support

Specifications

Total channels 256 ~ 3072CHs
No of PMU 4CHs(up to 16)
function VSIM, ISVM FMV, RES
Accuracy ±1%
DC ±5V, 40mA
Current range ±5uA ~ 40mA
Test time 1ms / CH
Pin setting VT1, VT2, GND, OPEN, PMU

TDMS- 2000 (TSE DC Measure System)

TDMS-2000は、TDMS-1000の後続モデルとしてMulti PMU、増加されたtest channelを提供する。多様なUser Powerが提供されることでComponentまたはrelayなどをOperationできるし1つのsystemに二台のhandlerを適用できるので高い量産効率性を提供することができる。

Feature

  • 256~4096 Channel Configuration
  • 64PMU Channels
  • User DC Power Supplier (1.8V/3.3V/5V/12V/±15V)
  • Low Resistor Measure (4 wire Kelvin Measure)
  • Dual Handler Docking
  • Multi Option Slot

Specifications

Total channels 256~4096channels
No of PMU 64CHs
function VSIM, ISVM, FMV, RES
Accuracy ±0.5%
DC ±10V, 80mA
Current range ±5uA ~ 80mA
Test time 0.3ms/CH
Pin setting VT1, VT2, GND, OPEN, PMU
Function GPIO, Relay control

TDAS-3072 (TSE DC Analysis System)

半導体のDC分析に向けて最適化された装備のTDAS-3072はKELVIN structureで製作してHigh Accuracyを実現した。Open、Short、LeakageなどをTestできるし、I/V curve機能を通じたDC特性分析が可能である。Excelファイルを利用して簡単にProgrammingできるし、直観的なGUIを適用して手軽に運用できる。

Feature

  • 3072 Channel
  • O/S, Leakage Test Mode
  • Kelvin test structure
  • I/V curve test mode
  • User friendly GUI
  • Easy test PGM setup with Excel
  • Ball map display (Pass/Fail)
  • ±10V (1A) Output
  • VCC Supplier

Specifications

Total channels 3072CHs
No of PMU 1CH
No of VCC 1CH
Voltage ±10V (Resolution 1mV)
Accuracy ±0.5%
Range ±5uA ~ 1A
Resolution 1mA

UAP- 100 (Universal Auto Probe Station)

Fine Pitch PackageまたはMicro Bumpを自動的にprobingしてI-V curve特性を分析する装備としてpackage ballまたはBumpに生じるscratchを防止して精密なprobingを実現してDC特性分析に利便性を提供する。

Feature

  • Full Auto Probe Solution
  • 2Point Prober
  • Auto 3axis Moving (X, Y, Z)
  • Precise probing
  • I-V Curve Kelvin Measure
  • User Format Report
  • Ball Map Display
  • Auto Force Detect

Specifications

Size 1600(L)X1080(W)X1610(H)
Weight 400Kg
Input Power AC1-Phase 220V/60Hz/3KW
Auto Probing Minimum 25um
Package size 5x5mm ~ 60X60mm
Measure I-V curve
Range ±5uA ~ 1A
Resolution 1mA

TT-E400e

eMMC製品をtargetにしたtesterとしてMulti channel、Multi para構造に開発された。MCP製品のConcurrent Testが可能であり、NAND FlashなどもTest可能である。低価型に開発されて顧客の負担を減らしており拡張性に優れる。

Feature

  • Easy programming
  • Source sync
  • Match function
  • Quick setup & operation
  • Low Price
  • Shmoo tool

Specifications

Channels 416 ~ 6656 CHs
PPS 48 ~ 768EA (1~5V, 1A)
Parallelism 16 ~ 256 DUTs
Dara rate 400Mbps (eMMC V.5.0)
DC ±8V, ±40mA
Options GPIO, CPS, CW, PBID, PBTYPE
ALPG Full address operation Data TP

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