Equipment

LED Prober

DP7XL

DP7XL Die-Prober는 Lateral, Vertical Flip(CSP) Chip & PKG모두 측정이 가능한 신개념 Prober 이며, 특히 Flip(CSP) 제품의 측정에 특화되어 높은 Data 상관성을 제공하여 대량생산에 최적화된 Solution을 제공합니다.

Features

  • Fully-Auto LED Prober for CSP
  • 300 x 300 – 2000 x 2000 (um)
  • Up to 10” Wafer

P6602F

P6602F는 Wafer Prober는 Needle Block 방식을 적용하여 50um 이하의 소형 Micro LED의 측정에 최적화된 Solution을 제공합니다.

Features

  • Fully-Auto LED Prober for Small-sized LED (Wafer Prober)
  • Up to 6” Wafer
  • Needle Block & 상부 컨택 / 하부수광 방식 적용

W7000

Wafer 상태의 LED를 검사할 수 있는 Prober로 Wafer Double Fork의 특허기술이 접목되었습니다. 전수테스트는 물론 샘플링 테스트를 지원하여 고객의 양산수율을 한층 더 올려드릴 것 입니다.

P8000

P7000보다 양산 효율을 150% 향상시킨 차세대 LED Chip Prober로 2개의 Cassette loader로 확장되었고, 고객의 Chip 사양에 따라 4Para이상의 검사를 지원할 수 있도록 설계되었습니다.

LED Sorter

M76A

M76A Sorter는 LED Wafer Sorting에 최적화된 제품으로써 10초의 짧은 Bin exchange time을 제공합니다. 뿐만 아니라 최대 150 Bin까지 한번에 Sorting이 가능하여 보다 빠르고 편리한 Sorting환경을 제공함으로써 고객의 생산성 향상에 도움을 드립니다.

Features

  • Fastest Bin Frame Exchange
  • Maximum Design : 150 Bins, 8 Wafer Cassettes(Patent)
  • Lightest Chip Access Force
  • Free of Fault Chip Positioning Benefited from Integration with Prober
  • Equipped with No Wafer Scanner

LED Prober & Sorter

TPS7

TPS7은 Prober와 Sorter를 한 장비에 구현한 티에스이만의 신개념 제품입니다. 새롭게 부각되고 있는 TPS7 Chip Test & Sorting System을 통하여 Expand 후에 제품의 안정적인 테스트는 물론이며, 대량생산에 맞는 최적화 솔루션을 제공합니다.

Features

  • Fully Auto LED Tester & Sorter
  • 200X200 ~ 1500X1500 (um)
  • 4〃 Expanded to 6〃 Max.
  • Flexible Full Bin/ Empty bin/ Wafer/ Bin

TDS8000

TDS8000x 시리즈는 Chip Test와 Sorting을 동시에 또는 개별로 진행할 수 있는 Chip Test & Sorting System의 최적화된 모델입니다.
획기적인 성능과 운용의 편의성 및 제품 공간의 최소화를 통하여 사용자에게 최대의 만족을 드리고 있습니다.

Features

  • Two chips Parallel testing @ Two test site.
  • Two Chuck, One index position.
  • Chip align function.
  • 100(Bin type programmable)

Handler

티에스이의 LED Package Test Handler는 고객의 요구에 맞추어 개발되는 “Custom made Handler”입니다. 차별화된 앞선 기술의 접목을 통하여 빠르게 변화하는 시장상황에 대응하며 새로운 패러다임을 이끌어 나가기 위한 기술을 끊임없이 발전시키고 있습니다.

ILH 9000

Features

  • Head Lamp LED Module
  • Tray to Tube
  • Cycle time : 2.0sec (tt=1.0sec)
  • 40Trays / 30Tubes capa.
  • 16Bins + 2Empty Bins
  • Vision Inspection & Bar Code Reader
  • Kelvin Contact
  • 2,870(W) X 1,380(D) X 2,370(H)

LH 512TS

Features

  • Top View PKG Test Handler
  • Supports Max 512 bin sort
  • Provides Extra Fast Flexible bin(optional)
  • Anti ESD producing designed system
  • Tester built-in structure
  • 250ms tact time (includes test time)

S60x

Features

  • Top View PKG, Wafer level and COB PKG test handler
  • Easy operation and user friendly interface
  • Selectable half auto and full auto mechanism
  • provides temp effect tracing program
  • Supports device temperature control (optional)

VSP Series

Intelligent Dispensing Inspection System

VSP7

VSP7은 Dispensing 공정 이후의 Lead Frame의 CIE 색좌표 보정을 통하여, 고객사에서 필요한 최적화된 색좌표의 Targeting 솔루션을 제공합니다.

VSP8000

VSP8000은 LED Phosphor Film검사를 통해, 제품의 신뢰성을 검사하는 설비입니다.

VSP6000

프레임상태인 LED Package 에 형광체를 디스펜싱한 직후 Package에 도포된 액상 형광체의 3차원 형상 및 체적을 보여줍니다. 또한 완제품측정 이전에 미리 결과를 예측하고, 불필요한 테스트 비용을 절감할 수 있는 장점을 제공합니다.

제품문의

문의하고자 하는 내용이 있으시면, 아래 양식을 통해 접수하여 주시기 바랍니다.
고객 여러분의 문의사항을 적극 반영할 수 있도록 노력하겠습니다.

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